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橫向力/側(cè)向力顯微鏡(LFM)?側(cè)向力顯微鏡的應(yīng)用

發(fā)布時間:2019/12/19

橫向力/側(cè)向力顯微鏡(LFM)?側(cè)向力顯微鏡的應(yīng)用

1.     原理

探針掃描時懸臂的偏折量可以回饋成高度變化的影像,但是掃描的同時會有摩擦力的產(chǎn)生,而且摩擦力會造成探針懸臂的左右扭曲(圖7-1),所以利用偵測懸臂的扭曲量我們可以得知試片表面摩擦力的分布 ,此為接觸式原子力顯微術(shù)的應(yīng)用。

2.應(yīng)用
量測表面力學(xué)特性,如摩擦力,材料表面彈性系數(shù)等。


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